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전기적 스트레스에 의한 MILC poly-Si TFT 특성변화 원인에 관한 연구 선택
전기적 스트레스에 의한 MILC poly-Si TFT 특성변화 원인에 관한 연구
김기범, 김태경, 이병일
,
| 대한전자공학회 |
2000
,
소장정보
소장정보
소장정보
등록번호
별치/청구기호
소장처
대출여부
대출정보
AR14095
P
-
참고자료실(관광학관2층)
대출불가
처음
1
마지막
소트
서명순
저자순
발행년도(1-9)
발행년도(9-1)
구분
자료유형
기사
(1)
저자
김기범, 김태경, 이병일
(1+)
출판사
대한전자공학회
(1+)
출판년도
2000
(1)
언어
kor
(1)
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