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PMOSFET에서 Hot Carrier Lifetime은 Hole injection에 의해 지배적이며, Nano-Scale CMOSFET에서의 NMOSFET에 비해 강화된 PMOSFET 열화 관찰
PMOSFET에서 Hot Carrier Lifetime은 Hole injection에 의해 지배적이며, Nano-Scale CMOSFET에서의 NMOSFET에 비해 강화된 PMOSFET 열화 관찰
나준희, 최서윤, 김용구, 이희덕, | 대한전자공학회 | 2004 ,
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Nano/MEMS 기술에 기반한 고기능 관성 센서
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조동일, 고형호, 박상준, 곽동훈, | 대한전자공학회 | 2004 ,
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IEE Proceedings -- Nanobiotechnology
IEE [, ]
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IET Nanobiotechnology
Institution of Engineering & Technology [, ]
3
International Journal of Nanoscience
World Scientific Publishing Company [, ]
4
Nano Reviews
Co-Action Publishing [, ]