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반도체 / Si 이 첨가된 In0.1Ga0.9As 에피층의 Si 셀 온도에 따른 표면특성 연구
반도체 / Si 이 첨가된 In0.1Ga0.9As 에피층의 Si 셀 온도에 따른 표면특성 연구 / 김동렬(Dong ...
반도체 / Si 이 첨가된 In0.1Ga0.9As 에피층의 Si 셀 온도에 따른 표면특성 연구

상세정보

자료유형  
 기사
ISSN  
12267945
저자명  
김동렬(Dong Lyeul Kim)
서명/저자  
반도체 / Si 이 첨가된 In0.1Ga0.9As 에피층의 Si 셀 온도에 따른 표면특성 연구 / 김동렬(Dong Lyeul Kim) , 이동율(Dong Yul Lee) , 배인호(In Ho Bae) 공저
발행사항  
서울 : 한국전기전자재료학회, 2000.
형태사항  
pp. 551-556
주기사항  
참고문헌수록
기타저자  
이동율(Dong Yul Lee) , 배인호(In Ho Bae)
기본자료저록  
전기전자재료학회논문지(Journal of the korean Institute and Electronic : 제13권 제7호 (2000년 7월) 2000, 07
원문정보  
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모체레코드  
모체정보확인
Control Number  
kjul:60235185

MARC

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