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사이리스터 소자의 수명예측을 위한 열화진단기술
사이리스터 소자의 수명예측을 위한 열화진단기술
Detailed Information
- 자료유형
- 기사
- ISSN
- 12267945
- 저자명
- 김병철
- 서명/저자
- 사이리스터 소자의 수명예측을 위한 열화진단기술 / 김병철 , 김형우 , 서길수 공저
- 발행사항
- 서울 : 한국전기전자재료학회, 2007.
- 형태사항
- pp. 197-201
- 주기사항
- 참고문헌 수록
- 기타저자
- 김형우 , 서길수
- 원문정보
- url
- 모체레코드
- 모체정보확인
- Control Number
- kjul:60233517
MARC
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■1001 ▼a김병철
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■500 ▼a참고문헌 수록
■7001 ▼a김형우 , 서길수
■773 ▼t전기전자재료학회논문지(Journal of the korean Institute and Electronic▼g제20권 제3호 (2007년 3월)▼d2007, 03
■856 ▼uhttp://www.kieeme.or.kr
■SIS ▼aS037663▼b60055323▼h8▼s2▼fP
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