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Nano-scale PMOSFET에서 Plasma Nitrided Oixde에 대한 소자 특성의 의존성
Nano-scale PMOSFET에서 Plasma Nitrided Oixde에 대한 소자 특성의 의존성 / 한인식 , 지희환, ...
Nano-scale PMOSFET에서 Plasma Nitrided Oixde에 대한 소자 특성의 의존성

상세정보

자료유형  
 기사
ISSN  
12267945
저자명  
한인식
서명/저자  
Nano-scale PMOSFET에서 Plasma Nitrided Oixde에 대한 소자 특성의 의존성 / 한인식 , 지희환, 구태규, 유욱상, 최원호, 박성형, 이희승, 강영석, 김대병, 이희덕 공저
발행사항  
서울 : 한국전기전자재료학회, 2007.
형태사항  
pp. 569-574
주기사항  
권말 색인 및 참고문헌 수록
기타저자  
지희환, 구태규, 유욱상, 최원호, 박성형, 이희승, 강영석, 김대병, 이희덕
기본자료저록  
전기전자재료학회논문지(Journal of the korean Institute and Electronic : 제20권 제7호 (2007년 7월) 2007, 07
원문정보  
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모체레코드  
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Control Number  
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MARC

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