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측정된 S-파라미터에서 MESFET과 HEMT의 기생 저항을 구하는 새로운 방법
측정된 S-파라미터에서 MESFET과 HEMT의 기생 저항을 구하는 새로운 방법
상세정보
MARC
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■1001 ▼a임종식
■24510▼a측정된 S-파라미터에서 MESFET과 HEMT의 기생 저항을 구하는 새로운 방법▼d임종식▼e김병성, 남상욱 공저
■260 ▼a서울▼b한국전자파학회▼c2000.
■300 ▼app. 876-885
■500 ▼a권말 색인 및 참고문헌 수록
■7001 ▼a김병성, 남상욱
■773 ▼t韓國電磁波學會論文誌(The Journal of Korea Electromagnetic Engineering▼g第11卷 第6號▼d2000, 09
■856 ▼uhttp://kiees.or.kr
■SIS ▼aS018069▼b60066226▼h8▼s2▼fP


