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XY 스캐너의 아베 오차 최소화를 위한 최적 설계 및 나노 정밀도의 원자 현미경 피치 측정 불확도 평가
XY 스캐너의 아베 오차 최소화를 위한 최적 설계 및 나노 정밀도의 원자 현미경 피치 측정 불확...
XY 스캐너의 아베 오차 최소화를 위한 최적 설계 및 나노 정밀도의 원자 현미경 피치 측정 불확도 평가

상세정보

자료유형  
 기사
ISSN  
12259071
저자명  
김동민
서명/저자  
XY 스캐너의 아베 오차 최소화를 위한 최적 설계 및 나노 정밀도의 원자 현미경 피치 측정 불확도 평가 / 김동민 , 이동연,권대갑 공저
발행사항  
서울 : 한국정밀공학회, 2006.
형태사항  
pp. 96-103
주기사항  
권말 색인및 참고문헌 수록
기타저자  
이동연,권대갑
기본자료저록  
한국정밀공학회지=Journal of Korean Society for Precision Engineering : Vol. 23 No. 6 (2006년 6월) 2006, 06
원문정보  
 url
모체레코드  
모체정보확인
Control Number  
kjul:60223576

MARC

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