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Ti glue layer, boron dopant, N₂ plasma 처리들이 Cu와 low-k 접착력에 미치는 효과
Ti glue layer, boron dopant, N₂ plasma 처리들이 Cu와 low-k 접착력에 미치는 효과  / 이섭 ,...
Ti glue layer, boron dopant, N₂ plasma 처리들이 Cu와 low-k 접착력에 미치는 효과

상세정보

자료유형  
 기사
ISSN  
12250562
저자명  
이섭
서명/저자  
Ti glue layer, boron dopant, N₂ plasma 처리들이 Cu와 low-k 접착력에 미치는 효과 / 이섭 , 이재갑 공저
발행사항  
서울 : 한국재료학회, 2003.
형태사항  
pp. 338-342
주기사항  
권말 참고문헌 수록
기타저자  
이재갑
기본자료저록  
한국재료학회지(Korean Journal of Materials Research) : Vol. 13, No. 5, (2003 May) 2003, 05
원문정보  
 url
모체레코드  
모체정보확인
Control Number  
kjul:60218734

MARC

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