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스캔 분할 기법을 이용한 저전력 Test-Per-Scan BIST
스캔 분할 기법을 이용한 저전력 Test-Per-Scan BIST
상세정보
MARC
008190114s2003 ulk aa kor■1001 ▼a문정욱
■24510▼a스캔 분할 기법을 이용한 저전력 Test-Per-Scan BIST▼d문정욱▼e손윤식, 정정화 공저
■260 ▼a서울▼b대한전자공학회▼c2003.
■300 ▼app. 1205-1208
■500 ▼a참고문헌 수록
■7001 ▼a손윤식, 정정화
■773 ▼t대한전자공학회 종합학술대회 논문집▼g2003년도 하계 II 제26권 제1호▼d2003, 07
■856 ▼uhttp://www.ieek.or.kr
■SIS ▼aS010144▼b60014492▼h8▼s2▼fP
