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저자명  

한영신

서명/저자  

반도체 EDS공정에서의 패턴인식기법을 이용한 불량 유형 자동 분류 방법 연구 / 한영신 , 황미영, 이칠기 공저

발행사항  

서울 : 대한전자공학회, 2003.

형태사항  

pp. 703-706

주기사항  

참고문헌 수록

기타저자  

황미영, 이칠기

기본자료저록  

대한전자공학회 종합학술대회 논문집 : 2003년도 하계 II 제26권 제1호 2003, 07

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