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 기사

저자명  

이재성

서명/저자  

박막 게이트 산화막의 열화에 의해 나타나는 MOSFET의 특성 변화 / 이재성 , 이원규 공저

발행사항  

서울 : 대한전자공학회, 2003.

형태사항  

pp. 687-690

주기사항  

참고문헌 수록

기타저자  

이원규

기본자료저록  

대한전자공학회 종합학술대회 논문집 : 2003년도 하계 II 제26권 제1호 2003, 07

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