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레이더의 원형 스캔에 따른 ES 탐지손실 분석
레이더의 원형 스캔에 따른 ES 탐지손실 분석
Detailed Information
MARC
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■1001 ▼a류영진
■24510▼a레이더의 원형 스캔에 따른 ES 탐지손실 분석▼d류영진▼e김환우 공저
■260 ▼a서울▼b대한전자공학회▼c2005.
■300 ▼app. 159-166
■500 ▼a참고문헌수록
■7001 ▼a김환우
■773 ▼t전자공학회논문지SP(Signal Processing) : 신호처리▼g제42권 제6호 (2005 11)▼d2005, 11
■856 ▼uhttp://www.ieek.or.kr
■SIS ▼aS016681▼b60014376▼h8▼s2▼fP


