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Sub-Bandgap Photonic Base Current Method for Extracting the Trap Density at Heterointerfaces in Heterojunction Bipolar Transistors
Sub-Bandgap Photonic Base Current Method for Extracting the Trap Density at Heterointerfaces in Heterojunction Bipolar Transistors
Detailed Information
- 자료유형
- 기사
- ISSN
- 03744884
- 저자명
- S. W. Kim
- 서명/저자
- Sub-Bandgap Photonic Base Current Method for Extracting the Trap Density at Heterointerfaces in Heterojunction Bipolar Transistors / S. W. Kim , J. U. Lee , G. C. Kang , K. S. Roh , S. H. Seo , K. Y. Kim , C. H. Lee , S. Y. Lee , H. T. Kim D. H. Kim , K. S. Min , D. J. KIm
- 발행사항
- 서울 : 한국물리학회, 2006.
- 형태사항
- pp. 1558-1564
- 기타저자
- J. U. Lee
- 기타저자
- G. C. Kang
- 기타저자
- K. S. Roh
- 기타저자
- S. H. Seo
- 기타저자
- K. Y. Kim
- 기타저자
- C. H. Lee
- 기타저자
- S. Y. Lee
- 기타저자
- H. T. Kim D. H. Kim
- 기타저자
- K. S. Min
- 기타저자
- D. J. KIm
- 기타저자
- D. W. Kang
- 기타저자
- J. K. Rhee
- 기타저자
- D. M. KIm
- 모체레코드
- 모체정보확인
- Control Number
- kjul:60144837
MARC
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