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Soft Breakdown 현상이 Deep Submicron NMOSFET의 성능에 미치는 영향
Soft Breakdown 현상이 Deep Submicron NMOSFET의 성능에 미치는 영향
Detailed Information
- Material Type
- 기사
- Author
- 정영철
- Title/Author
- Soft Breakdown 현상이 Deep Submicron NMOSFET의 성능에 미치는 영향 / 정영철 저
- Publish Info
- 경주 : 경주대학교 정보전자기술연구소, 2005.
- Material Info
- pp. 185-194
- Host Item Entry
- 情報電子技術論叢 : 2005년 3월 (제4권) 2005, 02
- 모체레코드
- 모체정보확인
- Control Number
- kjul:60144574
MARC
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