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In-Situ Monitoring of InAs/GaAs QDs by Using Spectral Reflectance
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In-Situ Monitoring of InAs/GaAs QDs by Using Spectral Reflectance

상세정보

자료유형  
 기사
ISSN  
03744884
저자명  
E. Ahn
서명/저자  
In-Situ Monitoring of InAs/GaAs QDs by Using Spectral Reflectance / E. Ahn , Y. S. Lee , J. Kim , E. Yoon , Y. D. Kim
발행사항  
서울 : 한국물리학회, 2006.
형태사항  
pp. 947-950
기타저자  
Y. S. Lee
기타저자  
J. Kim
기타저자  
E. Yoon
기타저자  
Y. D. Kim
기본자료저록  
Journal of The Korean Physical Society : Vol. 49 No. 3 (2006. 9) 2006, 09
모체레코드  
모체정보확인
Control Number  
kjul:60144084

MARC

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