서브메뉴
검색
실리콘 웨이퍼에서 광열 변위법과 소수 반송자 재결합 수명 측정에 의한 기계적 후면 손상 평가
실리콘 웨이퍼에서 광열 변위법과 소수 반송자 재결합 수명 측정에 의한 기계적 후면 손상 평가
Detailed Information
- 자료유형
- 기사
- ISSN
- 12251429
- 저자명
- 최치영
- 서명/저자
- 실리콘 웨이퍼에서 광열 변위법과 소수 반송자 재결합 수명 측정에 의한 기계적 후면 손상 평가 / 최치영 , 조상희 공저
- 발행사항
- 서울 : 한국결정성장학회, 1998.
- 형태사항
- pp. 117-123
- 기타저자
- 조상희
- 기본자료저록
- Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology : Vol. 8 No. 1 (1998년 2월) 1998, 02
- 모체레코드
- 모체정보확인
- Control Number
- kjul:60142714
MARC
008100830s1998 ulka a kor■022 ▼a12251429
■1001 ▼a최치영
■24510▼a실리콘 웨이퍼에서 광열 변위법과 소수 반송자 재결합 수명 측정에 의한 기계적 후면 손상 평가▼d최치영▼e조상희 공저
■260 ▼a서울▼b한국결정성장학회▼c1998.
■300 ▼app. 117-123
■7001 ▼a조상희
■773 ▼tJournal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology▼gVol. 8 No. 1 (1998년 2월)▼d1998, 02
■SIS ▼aS034030▼b60077034▼h8▼s2▼fP
Preview
Export
ChatGPT Discussion
AI Recommended Related Books
ค้นหาข้อมูลรายละเอียด
- จองห้องพัก
- ไม่อยู่
- โฟลเดอร์ของฉัน
- Reference Materials for Thesis Writing
- Reference Materials for Research Ethics
- Job-Related Books
