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Roughness Analysis of GaN Surfaces at Different Annealing Temperatures for an AIN Buffer Layer
Roughness Analysis of GaN Surfaces at Different Annealing Temperatures for an AIN Buffer Layer
상세정보
- 자료유형
- 기사
- ISSN
- 03744884
- 저자명
- M. K. Bae
- 서명/저자
- Roughness Analysis of GaN Surfaces at Different Annealing Temperatures for an AIN Buffer Layer / M. K. Bae , D. H. Shin , S. N. Yi , S. H. Doh , J. H. Na , K. H. Lee , R. A. Taylor , S. H. Park
- 발행사항
- 서울 : 한국물리학회, 2007.
- 형태사항
- pp. 209-213
- 기타저자
- D. H. Shin
- 기타저자
- S. N. Yi
- 기타저자
- S. H. Doh
- 기타저자
- J. H. Na
- 기타저자
- K. H. Lee
- 기타저자
- R. A. Taylor
- 기타저자
- S. H. Park
- 모체레코드
- 모체정보확인
- Control Number
- kjul:60141288
MARC
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