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Spectroscopic Ellipsometric Analysis of a Patterned Cr Film on Quartz
Spectroscopic Ellipsometric Analysis of a Patterned Cr Film on Quartz
상세정보
- 자료유형
- 기사
- ISSN
- 03744884
- 저자명
- S. Y. Lee
- 서명/저자
- Spectroscopic Ellipsometric Analysis of a Patterned Cr Film on Quartz / S. Y. Lee , T. H. Ghong , J. -M. Chung , Y. D. Kim , D. S. Kim , C. H. Kim
- 발행사항
- 서울 : 한국물리학회, 2007.
- 형태사항
- pp. 189-192
- 기타저자
- T. H. Ghong
- 기타저자
- J. -M. Chung
- 기타저자
- Y. D. Kim
- 기타저자
- D. S. Kim
- 기타저자
- C. H. Kim
- 모체레코드
- 모체정보확인
- Control Number
- kjul:60141284
MARC
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