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 기사

ISSN  

03744914

저자명  

박승환

서명/저자  

GaN 후막의 구조적 결함이 전기적 특성에 미치는 영향 / 박승환 , 정미나 , 이정윤 , 양민 , 김홍승 , 장지호 , 오동철 , 김정진 공저

발행사항  

서울 : 한국물리학회, 2006.

형태사항  

pp. 278-283

기타저자  

정미나

기타저자  

이정윤

기타저자  

양민

기타저자  

김홍승

기타저자  

장지호

기타저자  

오동철

기타저자  

김정진

기본자료저록  

새물리 : 제52권 제3호 (2006년 3월) 2006, 03

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Control Number  

kjul:60138640