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100 nm NIST표준입자를 이용한 미분형 전기 이동도 분석기의 교정 및 불확실도 측정
100 nm NIST표준입자를 이용한 미분형 전기 이동도 분석기의 교정 및 불확실도 측정
상세정보
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■1001 ▼a이상진
■24510▼a100 nm NIST표준입자를 이용한 미분형 전기 이동도 분석기의 교정 및 불확실도 측정▼d이상진▼e안진홍▼e안강호 공저
■260 ▼a서울▼b대한기계학회▼c2003.
■300 ▼app. 1766-1771
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■7001 ▼a안강호
■773 ▼t대한기계학회논문집B=Transactions of the korean society of mechanical e▼g제27권 제12호 (통권 제219호)(2003년 12월)▼d2003, 12
■SIS ▼aS010501▼b60013887▼h8▼s2▼fP


