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 기사

ISSN  

12296368

저자명  

송재훈

서명/저자  

저전력 테스트 데이터 압축 개선을 위한 효과적인 기법 / 송재훈 , 김두영 , 김기태 , 박성주 공저

발행사항  

서울 : 대한전자공학회, 2006.

형태사항  

pp. 104-110

키워드  

저전 테스트 데이터 압축 개선 위한 효과적 기법

기타저자  

김두영

기타저자  

김기태

기타저자  

박성주

기본자료저록  

전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체 : 제43권 제10호 (2006 10) 2006, 10

URL  

http://www.ieek.or.kr

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Control Number  

kjul:60095610