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 기사

ISSN  

12296368

저자명  

호원준

서명/저자  

새로운 BEOL 공정을 이용한 NBTI 수명시간 개선 / 호원준 저 , 한인식 , 이희덕 공저

발행사항  

서울 : 대한전자공학회, 2006.

형태사항  

pp. 9-14

키워드  

새로운 BEOL 공정 이용 NBTI 수명 시간

기타저자  

한인식

기타저자  

이희덕

기본자료저록  

전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체 : 제43권 제3호 (2006 3) 2006, 03

URL  

http://www.ieek.or.kr

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Control Number  

kjul:60086238