자료유형  

 기사

ISSN  

12296368

저자명  

이정민

서명/저자  

수정된 의사 무작위 패턴을 이용한 효율적인 로직 내장 자체 테스트에 관한 연구 / 이정민 저 , 장훈 저

발행사항  

서울 : 대한전자공학회, 2006.

형태사항  

pp. 27-34

키워드  

수정 의사 무작위 패턴 이용 효율 적인 로직 내장 테스트

기타저자  

장훈

기본자료저록  

전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체 : 제43권 제8호 (2006 8) 2006, 08

URL  

http://www.ieek.or.kr

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Control Number  

kjul:60086196