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극자외선 리소그래피용 마스크의 결함 검출
극자외선 리소그래피용 마스크의 결함 검출
Detailed Information
MARC
008061218s2006 ULKa a KOR■022 ▼a12296368
■1001 ▼a이문석
■245 ▼a극자외선 리소그래피용 마스크의 결함 검출▼d이문석 저
■260 ▼a서울▼b대한전자공학회▼c2006.
■300 ▼app. 1-5
■653 ▼a리소▼a마스크▼a결함▼a검출
■773 ▼t전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체▼g제43권 제8호 (2006 8)▼d2006, 08
■URL ▼ahttp://www.ieek.or.kr
■SIS ▼aS032084▼b60014354▼h8▼s2
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