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Characterization and Design Consideration of 80-nm Self-Aligned N-/P-Channel I-MOS Devices
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Characterization and Design Consideration of 80-nm Self-Aligned N-/P-Channel I-MOS Devices

상세정보

자료유형  
 기사
ISSN  
15981657
서명/저자  
Characterization and Design Consideration of 80-nm Self-Aligned N-/P-Channel I-MOS Devices / Woo Young Choi, Jong Duk Lee, Byung Gook Park
발행사항  
서울 : 대한전자공학회, 2006.
형태사항  
pp. 43-51
키워드  
CHARACTERIZATION DESIGN CONSIDERATION 80NM SELFALIGNED NPCHANNEL IMOS DEVICES
기타저자  
Woo Young Choi, Jong Duk Lee, Byung Gook Park
기본자료저록  
Journal of Semiconductor Technology and Science : Volume 6, Number 1, (2006 March) 2006, 03
URL  
http://www.jsts.org
모체레코드  
모체정보확인
Control Number  
kjul:60074873

MARC

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