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다중 시스템 클럭으로 동작하는 보드 및 SoC의 연결선 지연 고장 테스트
다중 시스템 클럭으로 동작하는 보드 및 SoC의 연결선 지연 고장 테스트 / 이현빈, 김영훈, 박성...
다중 시스템 클럭으로 동작하는 보드 및 SoC의 연결선 지연 고장 테스트

Detailed Information

자료유형  
 기사
ISSN  
12296368
서명/저자  
다중 시스템 클럭으로 동작하는 보드 및 SoC의 연결선 지연 고장 테스트 / 이현빈, 김영훈, 박성주, 박창원 공저
발행사항  
서울 : 대한전자공학회, 2006.
형태사항  
pp. 37-44
키워드  
다중 시스템 동작 보드 SOC의 연결선 지연 고장 테스트
기타저자  
이현빈, 김영훈, 박성주, 박창원
기본자료저록  
전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체 : 제43권 제1호 (2006 1) 2006, 01
모체레코드  
모체정보확인
Control Number  
kjul:60069887

MARC

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