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다중 시스템 클럭으로 동작하는 보드 및 SoC의 연결선 지연 고장 테스트
다중 시스템 클럭으로 동작하는 보드 및 SoC의 연결선 지연 고장 테스트
Detailed Information
- 자료유형
- 기사
- ISSN
- 12296368
- 서명/저자
- 다중 시스템 클럭으로 동작하는 보드 및 SoC의 연결선 지연 고장 테스트 / 이현빈, 김영훈, 박성주, 박창원 공저
- 발행사항
- 서울 : 대한전자공학회, 2006.
- 형태사항
- pp. 37-44
- 기타저자
- 이현빈, 김영훈, 박성주, 박창원
- 모체레코드
- 모체정보확인
- Control Number
- kjul:60069887
MARC
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■245 ▼a다중 시스템 클럭으로 동작하는 보드 및 SoC의 연결선 지연 고장 테스트▼d이현빈, 김영훈, 박성주, 박창원 공저
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■773 ▼t전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체▼g제43권 제1호 (2006 1)▼d2006, 01
■SIS ▼aS018532▼b60014354▼h8▼s2
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