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오프셋과 고주파수를 이용한 연산증폭기의 새로운 테스트 방식
오프셋과 고주파수를 이용한 연산증폭기의 새로운 테스트 방식
Detailed Information
- 자료유형
- 기사
- 서명/저자
- 오프셋과 고주파수를 이용한 연산증폭기의 새로운 테스트 방식 / 송근호, 백한석, 문성룡 공저
- 발행사항
- 서울 : 대한전자공학회, 2000.
- 형태사항
- pp. 189-192
- 기타저자
- 송근호, 백한석, 문성룡
- 모체레코드
- 모체정보확인
- Control Number
- kjul:60049919
MARC
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■773 ▼t대한전자공학회 종합학술대회 논문집▼g2000년도 하계종합학술대회 논문집 III 제23권 제1호▼d2000, 06
■SIS ▼aS009820▼b60014492▼h8▼s2
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