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고장 모델 기반 메모리 BIST 회로 생성 시스템 설계
고장 모델 기반 메모리 BIST 회로 생성 시스템 설계
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MARC
008050802s2005 ULKa a KOR■022 ▼a12296368
■245 ▼a고장 모델 기반 메모리 BIST 회로 생성 시스템 설계▼d이정민, 심은성, 장훈 공저
■260 ▼a서울▼b대한전자공학회▼c2005.
■300 ▼app. 19
■653 ▼a고장▼a모델▼a기반▼a메모리▼aBIST▼a회로▼a생성▼a시스템▼a설계
■700 ▼a이정민, 심은성, 장훈
■773 ▼t전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체▼g제42권 제2호 (2005 2)▼d2005, 02
■SIS ▼aS010985▼b60014354▼h8▼s2
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