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 기사

ISSN  

12296368

서명/저자  

재구성 가능한 시스템 칩 테스트 제어기술의 개발 / 김태식, 민병우, 박성주 공저

발행사항  

서울 : 대한전자공학회, 2004.

형태사항  

pp. 9

키워드  

재구성 가능 시스템 칩 테스트 제어 개발

기타저자  

김태식, 민병우, 박성주

기본자료저록  

전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체 : 제41권 제8호 (2004 8) 2004, 08

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Control Number  

kjul:60047140