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재구성 가능한 시스템 칩 테스트 제어기술의 개발
재구성 가능한 시스템 칩 테스트 제어기술의 개발 / 김태식, 민병우, 박성주 공저
재구성 가능한 시스템 칩 테스트 제어기술의 개발

Detailed Information

자료유형  
 기사
ISSN  
12296368
서명/저자  
재구성 가능한 시스템 칩 테스트 제어기술의 개발 / 김태식, 민병우, 박성주 공저
발행사항  
서울 : 대한전자공학회, 2004.
형태사항  
pp. 9
키워드  
재구성 가능 시스템 칩 테스트 제어 개발
기타저자  
김태식, 민병우, 박성주
기본자료저록  
전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체 : 제41권 제8호 (2004 8) 2004, 08
모체레코드  
모체정보확인
Control Number  
kjul:60047140

MARC

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