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SOC 테스트 시간 축소를 위한 새로운 내장 코어 기반 SOC 테스트 전략
SOC 테스트 시간 축소를 위한 새로운 내장 코어 기반 SOC 테스트 전략
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008050801s2004 ULKa a KOR■022 ▼a12296368
■245 ▼aSOC 테스트 시간 축소를 위한 새로운 내장 코어 기반 SOC 테스트 전략▼d강길영, 김근배, 임정빈, 전성훈, 강성호 공저
■260 ▼a서울▼b대한전자공학회▼c2004.
■300 ▼app. 97
■653 ▼aSOC▼a테스트▼a시간▼a축소▼a위한▼a새로운▼a내장▼a기반▼a전략
■700 ▼a강길영, 김근배, 임정빈, 전성훈, 강성호
■773 ▼t전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체▼g제41권 제9호 (2004 9)▼d2004, 09
■SIS ▼aS010822▼b60014354▼h8▼s2
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