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2-패턴 테스트를 고려한 스캔 기반 BIST 구조
2-패턴 테스트를 고려한 스캔 기반 BIST 구조 / 손윤식, 정정화 공저
2-패턴 테스트를 고려한 스캔 기반 BIST 구조

상세정보

자료유형  
 기사
ISSN  
12296368
서명/저자  
2-패턴 테스트를 고려한 스캔 기반 BIST 구조 / 손윤식, 정정화 공저
발행사항  
서울 : 대한전자공학회, 2003.
형태사항  
pp. 45-51
키워드  
2패턴 테스트 고려 스캔 기반 BIST 구조
기타저자  
손윤식, 정정화
기본자료저록  
전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체 : 제40권 제10호 (2003 10) 2003, 10
모체레코드  
모체정보확인
Control Number  
kjul:60044544

MARC

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