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ISSN  

12296368

서명/저자  

2-패턴 테스트를 고려한 스캔 기반 BIST 구조 / 손윤식, 정정화 공저

발행사항  

서울 : 대한전자공학회, 2003.

형태사항  

pp. 45-51

키워드  

2패턴 테스트 고려 스캔 기반 BIST 구조

기타저자  

손윤식, 정정화

기본자료저록  

전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체 : 제40권 제10호 (2003 10) 2003, 10

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kjul:60044544