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 기사

ISSN  

12296368

서명/저자  

이웃 패턴 감응 고장을 위한 효과적인 메모리 테스트 알고리듬 / 서일석, 강용석, 강성호 공저

발행사항  

서울 : 대한전자공학회, 2002.

형태사항  

pp. 44-52

키워드  

이웃 패턴 감응 고장 위한 효과적 메모리 테스트 알고리

기타저자  

서일석, 강용석, 강성호

기본자료저록  

전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체 : 제39권 제11호 (2002 11) 2002, 11

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Control Number  

kjul:60044340