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내장된 자체 테스트 기법으 이용한 새로운 다중 클락 회로 테스트 방법론
내장된 자체 테스트 기법으 이용한 새로운 다중 클락 회로 테스트 방법론
Detailed Information
- Material Type
- 기사
- ISSN
- 12296368
- Title/Author
- 내장된 자체 테스트 기법으 이용한 새로운 다중 클락 회로 테스트 방법론 / 서일석, 강용석, 강성호 공저
- Publish Info
- 서울 : 대한전자공학회, 2002.
- Material Info
- pp. 74-80
- Added Entry-Personal Name
- 서일석, 강용석, 강성호
- 모체레코드
- 모체정보확인
- Control Number
- kjul:60044264
MARC
008050714s2002 ULKa a KOR■022 ▼a12296368
■245 ▼a내장된 자체 테스트 기법으 이용한 새로운 다중 클락 회로 테스트 방법론▼d서일석, 강용석, 강성호 공저
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■773 ▼t전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체▼g제39권 제7호 (2002 7)▼d2002, 07
■SIS ▼aS009642▼b60014354▼h8▼s2
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