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 기사

ISSN  

12296368

서명/저자  

시스템 온 칩 테스트를 위한 효과적인 테스트 접근 구조 / 송동섭, 배상민, 강성호 공저

발행사항  

서울 : 대한전자공학회, 2002.

형태사항  

pp. 54-64

키워드  

시스템 칩 테스트 위한 효과적 접근 구조

기타저자  

송동섭, 배상민, 강성호

기본자료저록  

전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체 : 제39권 제5호 (2002 5) 2002, 05

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Control Number  

kjul:60044230