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시스템 온 칩 테스트를 위한 효과적인 테스트 접근 구조
시스템 온 칩 테스트를 위한 효과적인 테스트 접근 구조 / 송동섭, 배상민, 강성호 공저
시스템 온 칩 테스트를 위한 효과적인 테스트 접근 구조

Detailed Information

자료유형  
 기사
ISSN  
12296368
서명/저자  
시스템 온 칩 테스트를 위한 효과적인 테스트 접근 구조 / 송동섭, 배상민, 강성호 공저
발행사항  
서울 : 대한전자공학회, 2002.
형태사항  
pp. 54-64
키워드  
시스템 칩 테스트 위한 효과적 접근 구조
기타저자  
송동섭, 배상민, 강성호
기본자료저록  
전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체 : 제39권 제5호 (2002 5) 2002, 05
모체레코드  
모체정보확인
Control Number  
kjul:60044230

MARC

 008050714s2002        ULKa    a                          KOR
■022    ▼a12296368
■245    ▼a시스템  온  칩  테스트를  위한  효과적인  테스트  접근  구조▼d송동섭,  배상민,  강성호  공저
■260    ▼a서울▼b대한전자공학회▼c2002.
■300    ▼app.  54-64
■653    ▼a시스템▼a칩▼a테스트▼a위한▼a효과적▼a접근▼a구조
■700    ▼a송동섭,  배상민,  강성호
■773    ▼t전자공학회논문지SD(Semiconductor  and  Devices)  :  반도체▼g제39권  제5호  (2002  5)▼d2002,  05
■SIS    ▼aS009640▼b60014354▼h8▼s2

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