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ISSN  

12296368

Title/Author  

자체 스캔 체인을 이용한 Built-In Self-Test 구조에 관한 연구 / 한진욱, 민형복 공저

Publish Info  

서울 : 대한전자공학회, 2002.

Material Info  

pp. 85-97

Index Term-Uncontrolled  

스캔 체인 이용 BUILTIN SELFTEST 구조

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한진욱, 민형복

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전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체 : 제39권 제3호 (2002 3) 2002, 03

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kjul:60044152