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이중 포트 메모리를 위한 고장 진단 알고리듬
이중 포트 메모리를 위한 고장 진단 알고리듬
Detailed Information
MARC
008050714s2002 ULKa a KOR■022 ▼a12296368
■245 ▼a이중 포트 메모리를 위한 고장 진단 알고리듬▼d박한원, 강성호 공저
■260 ▼a서울▼b대한전자공학회▼c2002.
■300 ▼app. 20-33
■653 ▼a메모리▼a위한▼a고장▼a진단▼a알고리
■700 ▼a박한원, 강성호
■773 ▼t전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체▼g제39권 제3호 (2002 3)▼d2002, 03
■SIS ▼aS009638▼b60014354▼h8▼s2
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