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이중 포트 메모리를 위한 고장 진단 알고리듬
이중 포트 메모리를 위한 고장 진단 알고리듬 / 박한원, 강성호 공저
이중 포트 메모리를 위한 고장 진단 알고리듬

Detailed Information

자료유형  
 기사
ISSN  
12296368
서명/저자  
이중 포트 메모리를 위한 고장 진단 알고리듬 / 박한원, 강성호 공저
발행사항  
서울 : 대한전자공학회, 2002.
형태사항  
pp. 20-33
키워드  
메모리 위한 고장 진단 알고리
기타저자  
박한원, 강성호
기본자료저록  
전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체 : 제39권 제3호 (2002 3) 2002, 03
모체레코드  
모체정보확인
Control Number  
kjul:60044145

MARC

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