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유한요소법을 이용한 실리콘 기판에서의 공핍 영역 해석
유한요소법을 이용한 실리콘 기판에서의 공핍 영역 해석
상세정보
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■245 ▼a유한요소법을 이용한 실리콘 기판에서의 공핍 영역 해석▼d변기량, 황호정 공저
■260 ▼a서울▼b대한전자공학회▼c2002.
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■653 ▼a유한▼a이용▼a실리콘▼a기판▼a영역
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■773 ▼t전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체▼g제39권 제1호 (2002 1)▼d2002, 01
■SIS ▼aS009636▼b60014354▼h8▼s2


