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ULSI급 CMOS 소자 특성을 위한 몬테 카를로 이온 주입 공정 시뮬레이션시의 효율적인 가상 이온 발생법
ULSI급 CMOS 소자 특성을 위한 몬테 카를로 이온 주입 공정 시뮬레이션시의 효율적인 가상 이온 ...
ULSI급 CMOS 소자 특성을 위한 몬테 카를로 이온 주입 공정 시뮬레이션시의 효율적인 가상 이온 발생법

상세정보

자료유형  
 기사
ISSN  
12296368
서명/저자  
ULSI급 CMOS 소자 특성을 위한 몬테 카를로 이온 주입 공정 시뮬레이션시의 효율적인 가상 이온 발생법 / 손명식, 이진구 공저
발행사항  
서울 : 대한전자공학회, 2001.
형태사항  
pp. 7-16
키워드  
ULSI급 CMOS 소자 특성 위한 이온 주입 공정 시뮬레이션 시의 효율 적인 가상 발생
기타저자  
손명식, 이진구
기본자료저록  
전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체 : 제38권 제11호 (2001 11) 2001, 11
모체레코드  
모체정보확인
Control Number  
kjul:60044061

MARC

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