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지연고장 점검을 위한 효율적인 IEEE 1149.1 바운다리스캔 설계
지연고장 점검을 위한 효율적인 IEEE 1149.1 바운다리스캔 설계
Detailed Information
MARC
008050713s2001 ULKa a KOR■022 ▼a12296368
■245 ▼a지연고장 점검을 위한 효율적인 IEEE 1149.1 바운다리스캔 설계▼d김태형, 박성주 공저
■260 ▼a서울▼b대한전자공학회▼c2001.
■300 ▼app. 58-64
■653 ▼a지연▼a고장▼a점검▼a위한▼a효율▼a적인▼aIEEE▼a1149.1▼a설계
■700 ▼a김태형, 박성주
■773 ▼t전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체▼g제38권 제10호 (2001 10)▼d2001, 10
■SIS ▼aS009633▼b60014354▼h8▼s2
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