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동적 전원 공급 전류를 이용한 효율적인 SRAM 테스트 기법
동적 전원 공급 전류를 이용한 효율적인 SRAM 테스트 기법
상세정보
MARC
008050713s2000 ULKa a KOR■022 ▼a12296368
■245 ▼a동적 전원 공급 전류를 이용한 효율적인 SRAM 테스트 기법▼d윤도현, 김홍식, 강성호 공저
■260 ▼a서울▼b대한전자공학회▼c2000.
■300 ▼app. 50-59
■653 ▼a동적▼a전류▼a이용▼a효율▼a적인▼aSRAM▼a테스트▼a기법
■700 ▼a윤도현, 김홍식, 강성호
■773 ▼t전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체▼g제37권 제12호 (2000 12)▼d2000, 12
■SIS ▼aS009623▼b60014354▼h8▼s2


