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전기적 스트레스에 의한 MILC poly-Si TFT 특성변화 원인에 관한 연구
전기적 스트레스에 의한 MILC poly-Si TFT 특성변화 원인에 관한 연구
Detailed Information
- 자료유형
- 기사
- ISSN
- 12296368
- 서명/저자
- 전기적 스트레스에 의한 MILC poly-Si TFT 특성변화 원인에 관한 연구 / 김기범, 김태경, 이병일 공저
- 발행사항
- 서울 : 대한전자공학회, 2000.
- 형태사항
- pp. 29-34
- 기타저자
- 김기범, 김태경, 이병일
- 모체레코드
- 모체정보확인
- Control Number
- kjul:60043988
MARC
008050713s2000 ULKa a KOR■022 ▼a12296368
■245 ▼a전기적 스트레스에 의한 MILC poly-Si TFT 특성변화 원인에 관한 연구▼d김기범, 김태경, 이병일 공저
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■653 ▼a전기▼a스트레스▼aMILC▼aPOLYSI▼aTFT▼a특성▼a변화▼a원인
■700 ▼a김기범, 김태경, 이병일
■773 ▼t전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체▼g제37권 제12호 (2000 12)▼d2000, 12
■SIS ▼aS009623▼b60014354▼h8▼s2
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