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ISSN  

12296368

Title/Author  

입력신호 그룹화 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소 / 장윤석, 김동욱 공저

Publish Info  

서울 : 대한전자공학회, 2000.

Material Info  

pp. 86-96

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입력 신호 그룹 방법 BIST의 테스트 시간 감소

Added Entry-Personal Name  

장윤석, 김동욱

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전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체 : 제37권 제8호 (2000 8) 2000, 08

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kjul:60043925