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입력신호 그룹화 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소
입력신호 그룹화 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소 / 장윤석, 김동욱 공저
입력신호 그룹화 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소

Detailed Information

자료유형  
 기사
ISSN  
12296368
서명/저자  
입력신호 그룹화 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소 / 장윤석, 김동욱 공저
발행사항  
서울 : 대한전자공학회, 2000.
형태사항  
pp. 86-96
키워드  
입력 신호 그룹 방법 BIST의 테스트 시간 감소
기타저자  
장윤석, 김동욱
기본자료저록  
전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체 : 제37권 제8호 (2000 8) 2000, 08
모체레코드  
모체정보확인
Control Number  
kjul:60043925

MARC

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