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Si 나노 결정을 이용한 MOS 구조에서 Interface trap 효과에 관한 연구
Si 나노 결정을 이용한 MOS 구조에서 Interface trap 효과에 관한 연구
상세정보
MARC
008050705s2004 ULKa a KOR■022 ▼a12297380
■245 ▼aSi 나노 결정을 이용한 MOS 구조에서 Interface trap 효과에 관한 연구▼d곽성관, 김동식 공저
■260 ▼a서울▼b대한전자공학회▼c2004.
■300 ▼app. 11-16
■653 ▼a나노▼a결정▼a이용▼a구조▼a에서▼aINTERFACE▼aTRAP▼a효과
■700 ▼a곽성관, 김동식
■773 ▼t전자공학회논문지TE(Technology Education) : 전문 기술교육▼g제41권 제2호 (2004 6)▼d2004, 06
■SIS ▼aS010737▼b60014439▼h8▼s2


