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Si 나노 결정을 이용한 MOS 구조에서 Interface trap 효과에 관한 연구
Si 나노 결정을 이용한 MOS 구조에서 Interface trap 효과에 관한 연구 / 곽성관, 김동식 공저
Si 나노 결정을 이용한 MOS 구조에서 Interface trap 효과에 관한 연구

상세정보

자료유형  
 기사
ISSN  
12297380
서명/저자  
Si 나노 결정을 이용한 MOS 구조에서 Interface trap 효과에 관한 연구 / 곽성관, 김동식 공저
발행사항  
서울 : 대한전자공학회, 2004.
형태사항  
pp. 11-16
키워드  
나노 결정 이용 구조 에서 INTERFACE TRAP 효과
기타저자  
곽성관, 김동식
기본자료저록  
전자공학회논문지TE(Technology Education) : 전문 기술교육 : 제41권 제2호 (2004 6) 2004, 06
모체레코드  
모체정보확인
Control Number  
kjul:60042903

MARC

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