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가공면미세결함의 나노 인프로세스 측정을 위한 AFM시스템의 개발
가공면미세결함의 나노 인프로세스 측정을 위한 AFM시스템의 개발
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MARC
008000111s2002 ULKa a KOR■022 ▼a12264873
■245 ▼a가공면미세결함의 나노 인프로세스 측정을 위한 AFM시스템의 개발▼d권현규 최성태 공저
■260 ▼a서울▼b대한기계학회▼c2002.
■300 ▼app. 537-543
■653 ▼a가공면▼a나노▼a측정▼a위한▼aAFM시스템의▼a개발
■700 ▼a권현규 최성태
■773 ▼t대한기계학회논문집A▼g제26권 제3호 (통권 제198호)(2002년 3월)▼d2002, 03
■SIS ▼aS009359▼b60013871▼h8▼s2
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