MARC

 008000107s2001        ULKa    a                          ENG
■022    ▼a12259438
■245    ▼aEffects  of  Texture  ans  Grain  Structure  on  Electromigration  Lifetime  of  Al-Cu  Interconnects▼d공저  Young  Bae  Park,Duk  Won  Lee
■260    ▼a서울▼b대한금속.재료학회▼c2001.
■300    ▼app.  303-310
■653    ▼aEFFECTS▼aTEXTURE▼aANS▼aGRAIN▼aSTRUCTURE▼aELECTROMIGRATION▼aLIFETIME▼aALCU▼aINTERCONNECTS
■700    ▼aYoung  Bae  Park,Duk  Won  Lee
■773    ▼tMetals  and  Materials▼gVOL.7  NO.4  (2001  AUGUST)▼d2001,  08
■SIS    ▼aS009187▼b60013551▼h8▼s2

미리보기

내보내기

chatGPT토론

Ai 추천 관련 도서